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光谱共焦测厚仪

光谱共焦测厚仪

产品简介

测量传感器:高精度光谱共焦位移传感器。

测量方式:反射式光学几何厚度测量。


产品技术

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在测量过程中,由光源发出的一束宽光谱的混色光,通过色散镜头发生光谱色散,形成不同波长的单色光。由于每一种单色光的波长不同,在光轴空间上形成一组连续的焦点,每一个波长的焦点都对应一个距离值。测量光射到物体表面被反射回来,只有满足共焦条件的单色光,可以通过光路小孔被光谱仪感测到,通过计算被感测到的波长,换算获得距离值。

产品特点

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光谱共焦测厚仪根据不同材料测量需求,可采用单测头测厚仪或双测头测量。对于透明材料多采用单测头测量。

双测头测厚仪采用大理石或铸铁C型扫描架,单测头测厚仪采用π型龙门式扫描架。


技术参数

型号RSG700L、RSG750L、RSG850L
测量方式扫描测量、定点测量、循环定点测量
测量范围0~1000μm
采样距离1mm
重复精度±0.2μm

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