测量方式为射线穿透吸收式测量，测量直接物理量为面密度（克重）。当β射线穿透材料时，射线被材料反射、散射或吸收，导致射线强度有一些的衰减，且衰减量与被穿透材料的面密度呈正相关关系。

当材料的体积密度固定不变或一致性较高时，可以通过体积密度换算用来测量材料的厚度。

β射线面密度仪射线源系采用同位素氪85，属于V类放射源，使用管理受控，辐射防护要求较高。锐奇β射线面密度仪采用严格的多重辐射防护措施，确保辐射量满足距设备10cm处小于1μSv/h。

β射线测厚仪结合激光位移传感器，采用C型大理石扫描架，衍生出β射线激光测厚一体机，可以实现面密度和厚度同时测量，可用于锂电涂布面密度和头尾削薄测量。

β射线面密度仪测量传感器由β射线发射器和β探测器组成。

β射线测量传感器是锐奇公司的核心关键技术，由核探测专家集20年

经验倾力打造，具有国内稍有的高重复精度和长期稳定性。

β射线发射器采用德国进口氪85（Kr85）同位素射线源，半衰期10.76年。

锐奇β射线探测器引进USA前置放大电路技术，和β射线专用电离室，具有高信噪比。

锐奇β射线发射器采用专有的25*25mm和3*38mm两种射线准直器。

其中，3mm*38mm射线准直器，结合德国进口3mm*38mm的狭槽型Kr85放射源，

以及锐奇高信噪比探测器和软件算法，可实现更高的空间分辨率，可用于锂电负极涂布边缘削薄区轮廓测量。