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X射线全检面密度仪

X射线全检面密度仪

产品简介

为提升涂布面密度检验率,对锂电涂布实现面密度横向全幅覆盖检测与控制,最大限度的提高涂布面密度一致性,锐奇开发了面密度全检测量系统。


产品技术

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为提升涂布面密度检验率,对锂电涂布实现面密度横向全幅覆盖检测与控制,最大限度的提高涂布面密度一致性,锐奇开发了面密度全检测量系统。

产品特点

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● 面密度全幅面监控

● 可实现全数据追溯

● 响应快,让自动闭环控制更有效,大幅减少调废料

● 通过面密度数据,可实现部分缺陷检测

● 0.4*0.4mm取样距离,可实现涂布边缘削薄区面密度测量

应用价值

● 面密度 100% 全幅面监控,100% 全数据追溯, 降低品控风险

● 测量响应反馈更快捷,让闭环调节更高效

● 0.4mm 测量像素,可实现削薄区面密度检测,异形极片、超小极片面密度检测

● 优化分容工序,实现预分容,和去分容化

● 优化和降低N/P比,实现降本增效

技术参数

重复精度(正极极片测量100次)
分区宽度1s 采样周期0.2s 采样周期0.1s 采样周期
100mm±0.01g/m²±0.04g/m²±0.1g/m²
30mm±0.02g/m²±0.05g/m²±0.15g/m²
10mm±0.04g/m²±0.12g/m²±0.35g/m²
1mm±0.1g/m²±0.3g/m²±0.55g/m²
0.4mm±0.2g/m²±0.5g/m²±0.7g/m²

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