全面提升面密度一致性

• 100%面密度全检， 100%全数据追溯。

• 大幅降低品控风险。

• 测量即时反馈， 实现高效闭环调节 。

 系统构成

• 全幅宽线光斑X射线源

• 全幅宽线阵半导体平板探测器

• 0.4mm*4mm像素。