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锂电极片涂布

锂电池极片涂布面密度一致性测量
测量方案:X/β射线面密度仪

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测量应用:涂布面密度一致性测量、涂布边缘或头尾削薄区尺寸测量。

面密度一致性测量方案选择

正极涂布面密度一致性测量:X射线面密度仪或β射线面密度仪,推荐X射线面密度仪,精度更高,更易使用,辐射防护管理要求低。

负极涂布面密度一致性测量:β射线面密度仪。


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涂布削薄区尺寸测量方案选择

正极连续涂布两侧边缘削薄尺寸测量:采用锐奇削薄测量专用型X射线面密度仪,锐奇专有技术,2*12mm狭缝式射线出射光斑,可实现面密度和削薄区同时测量。

正极间隔涂布头尾削薄尺寸测量:X射线&激光测厚一体机,同时测量涂布面密度和削薄尺寸。

负极涂布连续或间隔涂布两侧边缘或头尾削薄尺寸测量:β射线激光测厚一体机,同时测量涂布面密度和削薄厚度、削薄长度。

涂布面密度净涂量:多机架同点对位跟踪测量,对位精度3~5mm。


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涂布面密度或削薄高度超限喷码打标:打标位置精度±10mm。可实现分区打标。

在测厚仪后面位置安装喷码打标机,当涂布面密度或削薄尺寸超限时,在基材留白位置喷码打印标记,在后续工段通过CCD检出。


单层涂布机多机架方案


双层涂布机


技术指标


产品名称RXG 系列 X 射线在线测厚仪RBG 系列 β 射线在线测厚仪RBLG 系列 β 射线激光一体机RLG 系列 激光测厚仪
测量传感器X 射线发射器 & 探测器β 射线源 & 探测器β 射线源 & 探测器 + 激光位移传感器激光位移传感器
扫描架O 型扫描架O 型扫描架 or C 型扫描架大理石 C 型扫描架大理石 C 型扫描架
测量光斑2*12mm 或 Φ9mm25*25mm2525mm(β - ray)/301200μm(激光)30*1200μm(激光)
采样距离1mm1mm1mm1mm
扫描速度0~300mm/s0~200mm/s0~200mm/s0~300mm/s
扫描测量重复精度 3σ±0.05g/m² 或 ±0.05%C 型架:±0.1g/m² 或 ±0.1%
O 型架:±0.06g/m² 或 ±0.06%
β 射线:±0.06g/m² 或 ±0.06%
激光:±0.4μm
±0.4μm
锂电典型应用
采样频率
正极涂布面密度测量负极涂布面密度测量负极涂布面密度测量极片涂布厚度测量,多用于代替射线测涂布湿膜厚度
边缘削薄尺寸测量 (锐奇 X 射线优势技术)
涂布边缘或头尾削薄厚度和削薄长度测量
留白宽度测量、涂宽涂长测量 (锐奇测厚仪的特色技术)
±0.3μm