锂电池极片涂布面密度一致性测量
测量方案:X/β射线面密度仪
测量应用:涂布面密度一致性测量、涂布边缘或头尾削薄区尺寸测量。
面密度一致性测量方案选择:
正极涂布面密度一致性测量:X射线面密度仪或β射线面密度仪,推荐X射线面密度仪,精度更高,更易使用,辐射防护管理要求低。
负极涂布面密度一致性测量:β射线面密度仪。
涂布削薄区尺寸测量方案选择:
正极连续涂布两侧边缘削薄尺寸测量:采用锐奇削薄测量专用型X射线面密度仪,锐奇专有技术,2*12mm狭缝式射线出射光斑,可实现面密度和削薄区同时测量。
正极间隔涂布头尾削薄尺寸测量:X射线&激光测厚一体机,同时测量涂布面密度和削薄尺寸。
负极涂布连续或间隔涂布两侧边缘或头尾削薄尺寸测量:β射线激光测厚一体机,同时测量涂布面密度和削薄厚度、削薄长度。
涂布面密度净涂量:多机架同点对位跟踪测量,对位精度3~5mm。
涂布面密度或削薄高度超限喷码打标:打标位置精度±10mm。可实现分区打标。
在测厚仪后面位置安装喷码打标机,当涂布面密度或削薄尺寸超限时,在基材留白位置喷码打印标记,在后续工段通过CCD检出。
产品名称 | RXG 系列 X 射线在线测厚仪 | RBG 系列 β 射线在线测厚仪 | RBLG 系列 β 射线激光一体机 | RLG 系列 激光测厚仪 |
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测量传感器 | X 射线发射器 & 探测器 | β 射线源 & 探测器 | β 射线源 & 探测器 + 激光位移传感器 | 激光位移传感器 |
扫描架 | O 型扫描架 | O 型扫描架 or C 型扫描架 | 大理石 C 型扫描架 | 大理石 C 型扫描架 |
测量光斑 | 2*12mm 或 Φ9mm | 25*25mm | 2525mm(β - ray)/301200μm(激光) | 30*1200μm(激光) |
采样距离 | 1mm | 1mm | 1mm | 1mm |
扫描速度 | 0~300mm/s | 0~200mm/s | 0~200mm/s | 0~300mm/s |
扫描测量重复精度 3σ | ±0.05g/m² 或 ±0.05% | C 型架:±0.1g/m² 或 ±0.1% O 型架:±0.06g/m² 或 ±0.06% | β 射线:±0.06g/m² 或 ±0.06% 激光:±0.4μm | ±0.4μm |
锂电典型应用 采样频率 | 正极涂布面密度测量 | 负极涂布面密度测量 | 负极涂布面密度测量 | 极片涂布厚度测量,多用于代替射线测涂布湿膜厚度 |
边缘削薄尺寸测量 (锐奇 X 射线优势技术) | 涂布边缘或头尾削薄厚度和削薄长度测量 | |||
留白宽度测量、涂宽涂长测量 (锐奇测厚仪的特色技术) ±0.3μm |
为客户提供满意测量解决方案