聚合物基膜上的薄涂层面密度测量一致性在线测量与控制
测厚方案:锐奇超软低能X射线在线测厚仪
测量应用:聚合物基膜上的薄涂层面密度测量一致性在线测量与控制
测厚方案:锐奇超软低能X射线在线测厚仪;采用超软低能的5KevX射线发射器,引进德国前置放大电路和探测器技术,超高信噪比和重复精度,适用于超薄材料或涂层的面密度/厚度一致性在线测量。
测量范围:0 ~200g/㎡或 0~200μ; 测量重复性精度: ±0.08g/㎡ 或 ±0.08μm
测量方式:扫描测量、定点测量、循环定点测量,全检测量。
功能模块:在线测量、实时曲线与品质数据显示、五限品质控制、多重超限预警/报警、全价值海量数据存储/追溯、历史曲线复显、自动SPC分析、自动生成品质卷报、MES对接,以及自动闭环控制。
为客户提供满意测量解决方案