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X射线测厚仪相比红外测厚更加有优势

来源:本站    作者:常州锐奇精密测量技术有限公司    发布时间:2020-07-30 08:48:08    浏览量:135

  X射线测厚仪相比红外测厚更加有优势

  X射线测厚仪是一种十分先进的测厚仪器,X射线测厚仪的测量结果主要是通过让其X光探头对物体表面反射出来的X光的前度以及偏差度的数据进行计算和测量得出具体厚度值的,是一种十分有效的侧厚方式。不过现在的各种测厚原理很多,测厚设备也很多,X射线测厚仪是不是具备有相当明显的优势呢?答案是肯定的,如果我们去和现在比较常用的一种红外测厚仪器进行相比较的话,就可以发现其优势所在了。

X射线测厚仪相比红外测厚更加有优势

  我们可以从很多个方面进行比较。首先放射性方面,两者之间的差距其实并不大,红外线属于一种非放射性的光线,X光属于低放射性的光线。在测量的介质存在有温度变化以及雾化变化的时候,X射线测厚仪的测量结果几乎可以不受影响,但是红外测厚仪的测量结果确实会受到很大的影响的,所以在测量的过程当中,还要提前对物件进行预处理。当测量不透明或者是一些有孔的薄膜的时候,红外测厚仪的测量结果会受到薄膜抖动所造成的误差,而这种问题在X射线测厚仪上就几乎不会发生,因为X射线是一种直线柱的性质,不会受到影响。还有就是在测量的范围方面,X射线测厚仪无疑是具有十分明显的优势的,它的测量范围可以达到3-2000微米,而红外线测厚仪的测量范围只有2-350微米之间。在测量的精度方面,X射线测厚仪X射线测厚仪可以做到0.03微米的精度,而红外线测厚仪的精度大概是在0.05微米左右。

  我们从以上的对比就可以看出,X射线测厚仪的优势还是十分之明显的,在测量的过程当中,采用这种测量仪器也更加让人放心。现在有许多的工厂都是十分推崇使用X射线测厚仪的,不过X射线测厚仪价格也不便宜,想要买之前还是要先考虑一番的。在如今的高精度价格领域,引进使用高精度X射线测厚仪这种测量仪器还是有不扫的好处的,总体来讲是不错的投资。

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